Krailling, 08.08.2018
SEMINAR: Ellipsometrie und Reflektometrie zur
Qualitätskontrolle dünner Schichten am 6. und 7. November 2018
Sehr geehrte Damen und Herren,
SENTECH veranstaltet ein anwendungsorientiertes Seminar zum Thema „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Qualitätskontrolle dünner Schichten“ in Berlin-Adlershof.
Wir freuen uns, dass wir auch dieses Jahr wieder kompetente Referenten gewinnen konnten, die Ihnen an ausgewählten Beispielen die Anwendungsmöglichkeiten der optischen Messtechniken Ellipsometrie und Reflektometrie von SENTECH erläutern werden.
Kunden berichten über aktuelle Themen aus der Praxis, wie die Anwendung von Scatterometrie zur Charakterisierung von Oberflächen, Tieftemperatur-Messungen und Anwendungen in der Nanotechnologie.
SENTECH Mitarbeiter berichten über Neuentwicklungen unserer optischen Dünnschichtmesstechnik z.B. in der Photovoltaik, zur Optimierung von ALD Prozessen mittels In-Situ Ellipsometrie und in der industriellen Qualitätskontrolle.
Das Seminarprogramm finden Sie hier: Programm SENTECH Messtechnik Seminar 2018
Die Vorträge werden den Seminarteilnehmern nach der Veranstaltung zur Verfügung gestellt.
In einem „Workshop über spektroskopische Ellipsometrie“ bieten wir unseren Nutzern die Möglichkeit, die SpectraRay/4 Software in kleinen Gruppen unter Anleitung kennenzulernen und zu nutzen.
Der Workshop findet im Anschluss an das Dünnschichtmesstechnik Seminar am Mittwoch, den 7. November 2018 in Berlin-Adlershof statt.
Wir bitten Sie sich zu dem Workshop separat anzumelden.
Das Programm zum Workshop finden Sie hier: Programm SENTECH Messtechnik Workshop 2018
Das Seminar als auch der Workshop sind leider ausgebucht. Bitte melden Sie sich, falls Sie Interesse an einer Voranmeldung für die darauffolgende Veranstaltung haben, per email bei uns: sales@sentech.de
Auskunft über das Seminar und den Workshop erhalten Sie unter der Telefonnummer: +49 89 897 9607 - 0
Wir freuen uns auf Ihren Besuch in Berlin und verbleiben mit freundlichen Grüßen
Ihr
SENTECH-Team
