主要特点和优势
测量 n, k、 厚度
该软件包专为 R(λ) 和 T(λ) 测量的高级分析而设计。
多层分析
可以测量单层薄膜和层堆中每一层的薄膜厚度和折射率。
大量分散模型
综合色散模型用于描述所有常见材料的光学特性。通过使用快速拟合算法改变模型参数，可将计算光谱调整为测量光谱。
"(《世界人权宣言》) FTPadv 专家 薄膜测量软件具有 FTPadv 标准软件所包含的用户友好和以配方为导向的操作理念。带有高亮拟合参数的光学模型、测量和计算的反射光谱以及主要结果可同时显示在操作屏幕上。
灵活性和模块化
SENTECH FTPadv 专家 该软件包用于对光谱数据进行高级分析，根据反射和透射测量结果确定薄膜厚度、折射率和消光系数。它扩展了 SENTECH 系统的标准软件包。 FTPadv 薄膜厚度探头适用于更复杂的应用，包括光学性质未知或不稳定的材料。可在光滑或粗糙、透明或吸收基底上测量单层透明或半透明薄膜的厚度、折射率和消光系数。软件可以分析复杂的层堆，并确定层堆中每一层的参数。
我们的 FTPadv 专家 薄膜测量软件具有用户友好和以配方为导向的操作理念，包括在 FTPadv 标准软件。带有高亮拟合参数的光学模型、测量和计算的反射光谱以及主要结果同时显示在操作屏幕上。
该软件包包括一个基于表格材料文件的大型可扩展材料库以及参数化分散模型。
"(《世界人权宣言》) FTPadv 专家 软件可选 膜厚探头 FTPadv 以及反射仪软件包的一部分 1000 马币 和 RM 2000.
配置：
- 考奇
- Sellmeier
- 肖特
- 冷-洛伦茨
- 德鲁德-洛伦茨
- 陶克-洛伦茨
- EMA 及其他
