光谱椭偏仪

我们的光谱椭偏仪是多功能的强大工具,可对薄膜和表面进行精确、无损的表征,是了解和优化材料光学和结构特性的重要工具。
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光谱椭偏仪

什么时候是理想选择?

光谱椭偏仪是先进材料分析的强大工具,与其他椭偏仪技术相比具有无可比拟的优势。与单波长或基于激光的方法不同,它能同时捕捉到广泛的波长谱,从而详细了解折射率、消光系数和厚度等光学特性。这种宽光谱能力使其成为精确表征多层薄膜、复杂材料和各向异性表面的首选工具。通过分析具有相似光学特性的材料的光谱特征,它在区分这些材料方面表现出色,这使其成为多层和异质系统的重要表征工具,巩固了其在现代科学和工程领域不可或缺的工具地位。

此外,它还具有非破坏性,可在提供准确结果的同时保持样品的完整性。它对光学特性细微变化的超灵敏度使其成为半导体、光伏和涂层领域关键应用的必备仪器。先进的建模功能进一步增强了其轻松分析粗糙层、纹理层或渐变层的能力。集多功能性、精确性和非侵入性于一身,光谱椭偏仪重新定义了材料的光学特性。

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