主要特点和优势
亚安氏精度
稳定的氦氖激光器可确保 0.1 Å 的精度，用于超薄单层薄膜厚度测量。
挑战激光椭偏仪的极限
该激光椭偏仪的多角度手动测角仪具有卓越的性能和角度精度，可测量单层薄膜和层堆的折射率、消光系数和薄膜厚度。
高速
测量速度 SE 400adv 激光椭偏仪使用户能够监测单层薄膜的生长和终点检测，或绘制样品的均匀性图。
SENTECH SE 400adv 可通过最大 200 毫米的测绘、用于原位测量的液态池、摄像机、自动对焦、模拟软件和经认证的标准晶片来满足您的需求。
灵活性和模块化
SENTECH SE 400adv 激光椭偏仪可从可选的特定应用入射角度对单层薄膜和基底进行表征。自动准直望远镜可确保精确测量大多数具有平坦反射表面的吸收或透明基底。完全集成的多角度测量支持（40 ° - 90 °，步长 5 °）可用于确定层叠的厚度、折射率和消光系数。多角度测量还可用于绝对厚度测量，以弥补激光椭偏仪厚度测量的模糊性。
"(《世界人权宣言》) SE 400adv SENTECH 激光椭偏仪用于测量超薄单层薄膜的厚度。这款紧凑型台式仪器由椭偏仪光学镜组、测角仪、样品平台、自动准直望远镜、氦氖激光源和检测单元组成。激光椭偏仪的选项 SE 400adv 支持微电子、数据存储、显示技术、生命科学、金属加工以及更多尖端技术的应用。
的选项 SE 400adv 支持许多行业的应用：
- 微电子学
- 生命科学
- 数据存储
- 显示技术
- 金属加工
