主要特点和优势
离散入射角
SENTECH SENpro 分光椭偏仪成本低廉，由一个角度计组成，入射角以 5° 为单位（40° - 90°），可优化椭偏测量。
步进扫描分析仪原理
高性价比的光谱椭偏仪 SENpro 采用独特的步进扫描分析原理。在数据采集过程中，偏振器和补偿器是固定的，以提供最高精度的椭偏仪测量。
速度和准确性
该工具注重测量薄膜的速度和精度，无论薄膜应用于何处。应用范围从 1 纳米的极薄层到高达 15 微米的厚层。
SENTECH SENpro 光谱椭偏仪操作简单，测量速度快，可在不同入射角进行椭偏测量的综合数据分析。它的测量光谱范围为 370 nm 至 1,050 nm。该工具的光谱范围与复杂的软件相结合 光谱射线/4 可轻松测定单层薄膜和复杂层叠的厚度和折射率。
可重复的准确结果
性价比高的台式 SENTECH SENpro 由 VIS-NIR 椭圆偏振光学镜组、5°-步进角度计、样品平台、激光对准、光纤耦合稳定光源和检测单元组成。SENpro 随附光谱椭偏仪软件 光谱射线/4 用于系统控制和数据分析，包括建模、模拟、拟合和数据展示。即用型应用文件使初学者也能轻松操作。 光谱射线/4 支持计算机控制的制图，用于均匀性测量。
"(《世界人权宣言》) SprectraRay/4 软件的预定义配方使测量快速简便，适用于各种应用。
