主要特点和优势
多晶硅和晶体硅太阳能电池制造的质量控制
SENTECH SENperc PV 设计用于太阳能电池制造（PERC、HJT、TOPCON 和 Perovskites）的质量控制 (QC)。它可以测量二氧化硅2Al2O3和 SiNX 这些单层薄膜和层堆可用于 PERC 电池（多晶硅和晶体硅衬底）的正面抗反射和背面钝化。沉积过程的稳定性受到长期监控。从而优化了维护间隔。
测量铝的厚度和折射率2O3 和 SiNx 电影
SENTECH SENperc PV用于太阳能电池制造的质量控制，配备基于配方的质量控制按钮操作。太阳能电池背面朝下放在样品台上，以控制钝化层。将有纹理的晶体硅太阳能电池插入一个特殊的晶片支架，以分析 AR 涂层。无需校准。杂散光不会影响测量。测量厚度和折射率并保存到 SQL 数据库中。
二氧化硅的长期稳定性监测2Al2O3 和 SiNx 熔敷
统计过程控制 (SPC) 用于评估 PERC 太阳能电池。预设范围用于产量分析。向操作员提供直接和长期的反馈，以便立即进行干预。SQL 数据库可在本地或通过局域网永久访问，以支持电池跟踪和良率分析。除了按钮操作外，SENTECH SENperc PV 配备功能强大的软件界面，用于研发新配方。
