主要特点和优势
测量灵活性
SENTECH SENDIRA 红外分光椭偏仪可测量薄膜厚度、折射率、消光系数以及块状材料、单层和多层堆叠的相关特性。该工具可用于测量在可见光范围内不透明的覆盖层以下的各层，以便进行测量。还可以分析材料的组成以及大分子团和链的取向。
椭偏振动光谱
利用红外光谱中分子振动模式的吸收带分析薄层的组成。此外，还可以利用这种傅立叶变换红外椭偏仪测量载流子浓度。
完全适用 FTIR
赛默飞世尔科技公司的商用傅立叶变换红外光谱仪 iS50 附带红外椭偏仪光学镜组。它也可用于普通振动光谱分析。
SENTECH SENDIRA 红外分光椭偏仪专为红外（傅立叶红外）而设计。这款紧凑型台式仪器由净化椭偏光学镜组、计算机控制的测角仪、水平样品平台、自动准直望远镜、商用傅立叶变换红外光谱仪和 DTGS 或 MCT 检测器组成。傅立叶变换红外光谱仪在 400 厘米-1 到 6,000 厘米-1（1.7 微米-25 微米）的光谱范围内具有极高的精确度和分辨率。
精确测量，结果准确
SENTECH SENDIRA 专注于薄层的振动光谱分析。应用范围从介质薄膜、TCO、半导体到有机层。SENDIRA 通过以下方式运行 光谱射线/4 软件。另外还提供傅立叶变换红外软件。
应用：
您可以将椭偏仪和振动光谱这两种强大的方法结合起来，深入了解材料在表面或界面上的光学和振动特性。
通过可靠的测量，确定红外光学的红外光学特性。得出有意义的结论，进行预测，并深入了解红外光学的最佳层和材料设计。
让您探索物质的基本特性，从而开发新材料，推动尖端技术的发展。
从根本上了解所选材料的结构和特性。
指导材料的合成和改良，以满足所需的性能标准。
精确测量杂质，确保实验结果的可靠性。
深入了解分子的光学和光谱取向，这对芯片实验室、生命科学和生物传感器应用中的许多前沿应用至关重要。
精确测量电子、光学和结构特性，明确确定应用中的功能。
获取有关材料质量和性能的宝贵信息，进行精确的电导率测量。
可精确测量和了解电荷载流子浓度和导电性。
