主要特点和优势
ARC 的世界标准
目前有超过 510 个 SENTECH SE 400adv 世界各地都在使用光伏多角度激光椭偏仪鉴定抗反射涂层。
粗糙表面分析
高灵敏度和超低噪声检测功能可用于测量非理想的、导致杂散光的表面，这些表面通常是纹理单晶硅和多晶硅太阳能电池。
非凡的准确性
超高的稳定性和精确度是 SENTECH 的主要特点。 SE 400adv PV 激光椭偏仪采用稳定的激光光源、温度稳定补偿器装置和超低噪声检测器。
多角度激光椭偏仪 SE 400adv PV 可在 632.8 nm HeNe 激光波长下测量纹理单晶硅片和多晶硅片上抗反射单层薄膜的膜厚和折射率。可更换式硅片支架允许对多晶硅片和碱性纹理单晶硅片进行测量。
带有碱性纹理表面的晶体硅太阳能电池测量结果
精密涂层评估
SENTECH SE 400adv PV 多角度激光椭偏仪尤其能分析氮化硅涂层x、ITO、TiO2 和氧化硅薄钝化层2 和 Al2O3.可在光滑的基底上对双层堆叠进行分析。
该工具结构紧凑，可快速启动和运行。SENTECH 软件简单易用，以配方为导向，包括一整套预定义的应用程序，可满足研发和生产环境中的质量控制要求。
便携式 PECVD 诊断仪
A 可携式 用于光伏应用的激光椭偏仪可在整条生产线开始运行之前，对大型 PECVD 系统进行设置和测试。
激光椭偏仪 SE 400adv PV
带便携选项
